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机译:薄试样的显微组织研究方法
公开/公告号SU534983A1
专利类型
公开/公告日1978-06-15
原文格式PDF
申请/专利权人 MO INZHENERNO-FIZICHESKIJ INSTITUT;
申请/专利号SU19752106361
发明设计人 KANTSYREV V.L.SU;PLESHANOV P.G.SU;ANANIN O.B.SU;BYKOVSKIJ YU.A.SU;KOZYREV YU.P.SU;
申请日1975-02-17
分类号G01N23/04;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 22:17:48
机译: 研究样品微观结构的方法
机译: 使用具有双截面的薄膜试样的弹性模量测量方法,具有双截面的薄膜试样的热膨胀系数测量方法,弹性系数和系数的连续性,热系数的连续性通过使用具有另一种宽度的一个薄膜样本进行一项实验,使薄膜样本的弹性系数和热膨胀系数
机译: 具有图案化的薄层的微结构化基材,包括该薄层的微结构阵列以及生产该微结构化基材和微结构阵列的方法