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机译:高灵敏度检测暗处非标准对比度变化的系统
公开/公告号JPS522481A
专利类型
公开/公告日1977-01-10
原文格式PDF
申请/专利权人 SHIODA SHINZOU;
申请/专利号JP19750078304
发明设计人 SHIODA SHINZOU;
申请日1975-06-23
分类号G01J1/04;
国家 JP
入库时间 2022-08-23 01:00:27
机译: 用于相衬和/或暗场成像的X射线探测器,具有X射线探测器的干涉仪,X射线成像系统,用于执行相衬X射线成像和/或暗场X射线成像的方法以及计算机程序,计算机可读媒体
机译: 用于高灵敏度检测特定距离的非基准对比度变化检测系统
机译: 在相衬和/或暗场X射线成像过程中检测入射X射线的干涉图样的X射线辐射