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机译:铁磁性样品的固定装置光谱分析或金相研究的位置必须研磨或抛光
公开/公告号DE1652064B1
专利类型
公开/公告日1971-09-23
原文格式PDF
申请/专利权人 HUETTENWERK OBERHAUSEN AG;
申请/专利号DE19671652064
发明设计人 HOFFMANN HEINZ;
申请日1967-12-20
分类号B24B41/06;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 09:47:41
机译: 铁磁性样品的固定装置光谱分析或金相研究的位置必须研磨或抛光
机译: 用于自动制备金相样品的装置包括:抛光柱,靠近垂直的支撑抛光板的料仓;预抛光柱和清洁柱;样品门,可在各柱之间转移板
机译: 用于手动研磨或抛光金相样品