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机译:einkristallplatten中子和伽马射线的定向单色仪和分析仪
公开/公告号DE000001572604A
专利类型
公开/公告日1970-02-19
原文格式PDF
申请/专利权人 BARTH GEB SCHOEPFE ELFI;BARTH DR HEINZ;
申请/专利号DE1572604A
发明设计人
申请日1967-12-12
分类号
国家 DE
入库时间 2022-08-23 11:07:16
机译: 单晶板聚焦中子或伽马射线的单色仪和分析仪
机译: 具有方向性伽马射线敏感性的中子/伽马射线测量仪器