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机译:一种用于x射线化学分析和研究晶体结构热行为的设备
公开/公告号FR1493008A
专利类型
公开/公告日1967-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 CENTRE NAT RECH SCIENT;CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE;
申请/专利号FR19660068987
发明设计人 PERINET GUY;PERINET GUY;
申请日1966-07-11
分类号G01N23/20;
国家 FR
入库时间 2022-08-23 13:59:00
机译: 使用所述的X射线光谱分析装置的X射线光谱分析装置和化学状态分析装置
机译: 旨在通过滑动束中的X射线结构分析进行综合测量的样品组装块以及其他物理化学方法