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Device for the determination of a layer thickness by beta - irradiation and measurement of the rueckgestreuten characteristic roentgenstrahlung

机译：用β-射线测定层厚并测定rueckgestreuten特性的装置

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公开/公告号DE1223569B

专利类型
公开/公告日1966-08-25

原文格式PDF
申请/专利权人 COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE;
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申请/专利号DE1961C024918
发明设计人 TANGUY JEAN-CLAUDE;
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申请日1961-08-21
分类号G01N23/203;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 15:00:29

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