首页> 外国专利> Magnetic particle flaw testing apparatus with overhead support rails for the tested article and its magnetizing means

Magnetic particle flaw testing apparatus with overhead support rails for the tested article and its magnetizing means

机译:带有用于测试的物品的高架支撑轨的磁粉探伤设备及其磁化装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3173085A

    专利类型

  • 公开/公告日1965-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MAGNAFLUX CORPORATION;

    申请/专利号US19600034828

  • 发明设计人 MYERS CHARLES STOWE;CHRISTENSEN ANTON E.;

    申请日1960-06-08

  • 分类号G01N27/84;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 15:28:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号