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DATA PROFILING METHOD AND DATA PROFILING SYSTEM USING ATTRIBUTE VALUE QUALITY INDEX

机译:基于属性值质量指数的数据分析方法及数据分析系统

摘要

According to an embodiment of the present invention, the method includes: calculating at least one first statistical value for each attribute based on data included in each attribute defined in a data set; determining a weight to be given to the first statistical value according to a first preset condition; calculating an attribute value quality index for each attribute based on a result of calculating the first statistical value and the weight assigned to the first statistical value; selecting at least one of the attributes whose attribute value quality index corresponds to a threshold condition as a profiling target attribute; and calculating a quality index for the data set based on an operation result of the first statistical value corresponding to the profiling target attribute and a weight assigned to the first statistical value. Provides data profiling methods.
机译:根据本发明的一个实施例,该方法包括:基于数据集中定义的每个属性中包含的数据,计算每个属性的至少一个第一统计值;根据第一预设条件确定要给予第一统计值的权重;基于计算第一统计值和分配给第一统计值的权重的结果,计算每个属性的属性值质量指数;选择其属性值质量指数对应于阈值条件的属性中的至少一个作为分析目标属性;以及基于与分析目标属性相对应的第一统计值的运算结果和分配给第一统计值的权重,计算数据集的质量指数。提供数据分析方法。

著录项

  • 公开/公告号KR102365910B1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR1020190179424

  • 发明设计人 장원중;

    申请日2019-12-31

  • 分类号G06F16/215;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 23:49:57

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