PW2424 X荧光仪故障原因分析及处理

著录项

• 来源
  《帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会》|2010年|172-176|共5页
• 会议地点 西宁
• 作者

  Liu Xin; 刘新; Fang Yingchun; 房迎春; Lei Kai; 雷凯; Fu Mingying; 付明英; Zheng Lihong; 郑利红; Wu Chunqi; 仵春祺;

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• 作者单位

  帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 TH744.15:TH707;
• 关键词

  X射线荧光光谱仪; 故障分析; 设备维修; 优化运行;