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X荧光法定量测定铝锭中的杂质元素

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为了对原材料铝锭进行快速分析,应用X射线荧光光谱法对铝锭中杂质元素Mg、Si、Fe、Cu、Zn、Ga进行定量分析,制定分析方法时选择良好的工作条件,利用光谱干扰校正系数、基体效应校正系数,来消除元素之间的光谱干扰和基体效应,得到良好的工作曲线.实验表明:该方法简便快速,试样经过数据分析比对,有比较好的重现性.

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来源
《帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会》|2010年|222-230|共9页
会议地点西宁
作者
Zhu Xiufen; 朱秀芬;
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作者单位

帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会组委会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TF821:TF807;
关键词
铝锭; X射线荧光光谱法; 光谱干扰; 基体效应; 杂质元素; 含量测定;

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