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ATE的技术演进规律及多点测试的成本分析

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摘要

经由专用发展而成通用的ATE的新趋势之一是并行测试。并行系统的设计原理揭示自阿姆达尔定律。依据ITRS-2009对比2005年的ATE基础数据，计算分析了多点ATE测试的成本优势。

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来源
《第十三届北京科技交流学术月节能与低功耗集成电路技术国际研讨会》|2010年|84-92|共9页
会议地点北京
作者
李文石; 刘晶;
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作者单位

北京电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
半导体自动测试机; 阿姆达尔定律; 结构设计; 计算分析;

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