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用X荧光光谱仪测试浮法玻璃化学成份的方法探索

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摘要

对0.7mm后的浮法玻璃逐步减薄,采用X荧光光谱测试不同减薄厚度玻璃的化学成分.研究发现,在表面1μm内Na2O的含量随减薄厚度的增加而逐步降低,1μm之后Na2O的含量趋于稳定,从而获得测试玻璃体内的真实成分的方法.经比较,采用减薄后X荧光光谱测试的Na2O的含量与传统湿法分析相一致.

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来源
《2016光电子玻璃及材料技术交流研讨会》|2017年|149-151|共3页
会议地点北京
作者
王世友; 胡正宜; 田普强; 张晓燕;
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作者单位

中国硅酸盐学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TQ171.721;TQ171.12;
关键词
浮法玻璃; 化学成份; X荧光光谱仪; 减薄厚度;
入库时间 2022-08-17 10:12:40

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