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使用平面工艺探测器探测高能粒子

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在空间环境探测中，需要探测MeV量级的电子。高能电子的穿透能力较强，需要采用较厚的探测器进行探测。通常采用锂漂移型探测器.由于锂漂移型探测器有噪声大、不稳定等弱点，所以我们在新一代仪器上采用了新平面工艺探测器——离子注入型(PIN)探测器.但是，由于受目前工艺限制，PIN探测器产品的厚度还不能达到要求，因而我们采用探测器并联方法来增加厚度.本文通过对该方案进行的实验进行分析，以证明其可行性。

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来源
《中国空间科学学会空间探测专业委员会第二十次学术会议》|2007年|374-377|共4页
会议地点湖南张家界
作者
施伟红; 陈鸿飞; 邹鸿; 邹积清; 田大宇; 宁宝俊; 张录;
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作者单位

中国空间科学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类半导体探测器（晶体探测器）;辐射带、高能粒子分布和环电流;
关键词
空间高能电子探测; 半导体探测器; 离子注入型探测器; 高能粒子;

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