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CeO2(111)表面氧空缺的扩散机理的密度泛函研究

摘要

CeO2材料具有独特的储放氧性能,在工业催化中有着广泛应用。在实际反应中,活性位附近的氧被消耗掉后形成氧空缺,通过氧空缺的扩散,远处和体相的氧可以迁移补充到活性位附近。近年来,理论计算研究了CeO2体相空缺的迁移机理然而,对于氧缺陷在表面的扩散机理,目前仍然不是很明确。因此,本文中我们有采用密度泛函理论计算研究了CeO2(111)表面氧空缺的扩散,并进一步探讨CEO24f道特性与空缺扩散之间的联系,以及CeO2具有储放氧性能的本质原因。

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