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X射线衍射全谱拟合分析微结构

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摘要

X射线衍射微结构分析方法就是一种基于衍射峰型和半峰宽的分析方法.这是因为,X射线衍射线形可以表达为仪器宽化线形(包括仪器几何,光学系统和样品位置偏移等所造成的宽化)以及样品自身宽化线形(包括晶粒尺寸,应变以及微缺陷等所造成的宽化)的卷积.本文主要就X射线衍射全谱拟合分析微结构的基础理论进行了论述.

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来源
《第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（ICDD）研讨会》|2006年|8-11|共4页
会议地点杭州
作者
吕光烈;
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作者单位

中国物理学会;

中国晶体学会;

中国硅酸盐学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类晶体对Ｘ射线、电子和中子的衍射理论;
关键词
X射线衍射; X射线晶体学; 微结构分析;

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