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基于SOC嵌入式核测试结构的研究

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以复用嵌入式核测试为目标的测试策略是现今解决SOC测试问题的基础,IEEEP1500嵌入式核测试组织已经在SOC测试壳,测试壳与测试存取通道之间接口和测试接口语言方面取得了一定的成果,但关于核的测试结构的具体实施,相应的测试存取机构的选取和设计方面还未予标准化.本文从测试复用的角度,研究了可复用IP核以及系统芯片SOC的测试结构,介绍了IEEEP1500嵌入式核测试外壳和另外一种测试外壳结构Test Shell,主要探讨了IEEEP1500的串行TAM和并行TAM,即基于测试总线和基于CAS-BUS的存取机制,并给出其在SOC中的应用.

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来源
《第四届中国测试学术会议》|2006年|20-25|共6页
会议地点北戴河
作者
王玺; 何怡刚; 刘美容; 苏旷宇;
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作者单位

中国计算机学会;

东北大学;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
嵌入式IP核; 测试外壳; 存取机制; 系统芯片;

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专利

1. SOC中嵌入式核测试标准IEEEP1500综述与研究 [J] . 刘建强 ,李智 . 国外电子测量技术 . 2005,第5期
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