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一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构

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本发明提供了一种SOC片上嵌入式IP硬核的测试访问隔离结构，有效降低了控制结构的复杂度，除去功能端口外，只需要具备移位使能SE(scan_enable)、测试模式(wtest_en)、测试时钟(test_clock)、扫描输入/输出(scan_in/scan_out)端口即可完成所有功能。根据不同内外测试环境，可灵活配置隔离扫描链数量；并且本结构具有与通用扫描结构相同的测试控制方法，可以完美的融入已有的扫描测试结构中，在实现嵌入式硬核IP测试隔离功能的同时，大大降低了集成难度，具有很强的可实现性和可操作性。

著录项

公开/公告号CN107300666B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-30

原文格式PDF
申请/专利权人西安微电子技术研究所;
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申请/专利号CN201710453919.X
发明设计人李俊玲;颜伟;沈拉民;刘才强;
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申请日2017-06-15
分类号G01R31/28(20060101);
代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;
代理人强宏超
地址 710065 陕西省西安市雁塔区太白南路198号
入库时间 2022-08-23 11:19:13

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