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BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用

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摘要

介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。

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来源
《集成电路与嵌入式系统》 |2009年第9期|12-13|共3页
作者
江伴东; 牛军伟; 汪志成;
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作者单位

景德镇陶瓷学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
片上系统; 片内测试; 嵌入式微处理器核; MemBIST; LogicBIST;

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