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基于临界反射原理的精密角位移测量

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随着纳米技术的迅速发展,以及其被广泛的应用于多种学科的国际前沿研究,纳米测量技术也变的越来越重要,显示出其举足轻重的地位.设计了基于光纤内反射效应的精密角位移测量方法,对其进行了理论分析.分析结果显示,测量的精度以及测量范围取决于入射光的偏振态,初始入射角以及反射次数.

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来源
《第三届全国信息获取与处理学术会议》|2005年|111-112|共2页
会议地点浙江金华
作者
王婷;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类长度计量;光学计量仪器;
关键词
角位移测量; 内反射; 测量范围; 测量灵敏度; 纳米测量技术;

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