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ICP-AES法测定钴基合金中高含量硅和硼

摘要

本文研究了ICP-AES法测定硅和硼时,钴基体及共存元素的干扰情况,建立了以王水和氢氟酸溶样,以硅212.412nm和硼208.959nm作为分析线,ICP-AES法直接测定钴基合金中高含量硅和硼的方法.光谱背景扣除法校正,无需基体匹配.方法回收率为99%~103%,RSD<1%.

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