首页> 中文会议>第五届海峡两岸计量与质量学术研讨会 >以嚴格耦合波理論模擬散射儀的疊對量測模式

以嚴格耦合波理論模擬散射儀的疊對量測模式

摘要

散射儀(scatterometer)可降低震動的干擾,又具有高測量重複性,在次世代疊對量測技術(overlaymetrology)中,逐漸受到重視.根據疊對圖樣的光柵與光入射平面的夾角,可分爲兩種量測模式,即傳統模式(conventionalmode)與圓錐模式(conicalmode).本文利用嚴格耦合波理論(rigorouscoupledwavetheory)模擬以此兩種模式量測同一個光柵式圖樣,並比較其差異性,結果顯示圓錐模式有較佳的靈敏度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号