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微波半导体器件研制与生产中需要的一些特殊测量技术

摘要

随着半导体功率器件和MMIC需求的激增,硅和砷化镓功率器件及MMIC的研制与生产也迅速发展。需要准确测量功率器件的阻抗和低噪声管芯的噪声参数,由于计算机技术的进步和广泛应用,已经完全可以实现上述要求,这就是负载牵引测量和噪声参数的测量。本文介绍了负载牵引测量技术,分析了噪声参数测量技术,阐述了程控调配器。

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