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Cl<,2>/Ar和Cl<,2>N<,2>ICP刻蚀对 n-GaN特性的影响

摘要

在器件的制作过程中,n-GaN的表面状态对n型欧姆接触起决定作用,同进也严重影响着器件的光电性能.而ICP刻蚀过程对n-GaN的表面状态有着重要的影响,必须根据n-GaN的光学和电学特性的变化对ICP刻蚀技术加以优化.

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