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热辐射体真实温度的测试研究

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在辐射测温中,普遍存在一个问题,被测温度物体表面发射率影响很大,而物体的发射率很难准确测量,这是因为发射率不仅与材料有关,而且还与波长、温度、表面状态(表面粗糙度、氧化程度等)有关,本文叙述了一种利用多波长辐射法测量实际物体的真实温度,该方法利用最小二乘法原理拟合出实际热辐射体的光谱发射率曲线,从而使测量目标的真实温度成为可能.

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来源
《2003年计量测试学术交流会》|2003年|248-252|共5页
会议地点乌鲁木齐
作者
占春连; 李燕梅; 刘建平; 范纪红; 李正琪;
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作者单位

中国宇航学会;

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TH811.2;
关键词
热辐射体; 相对光谱功率; 光谱发射率;

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