首页> 中文会议>第八届中国化学会分析化学年会暨第八届全国原子光谱学术会议 >悬浮体进样ETV-ICP-MS直接测定难熔Nb<,2>O<,5>中的痕量杂质

悬浮体进样ETV-ICP-MS直接测定难熔Nb<,2>O<,5>中的痕量杂质

摘要

本文介绍了固体样品直接分析可以避免湿化学制样时存在的操作繁锁、耗时和易引起污染等缺点.Huang等采取固体进样ETAAS测定氧化铌中的一些痕量杂质时,向石墨炉内通入含有甲烷的Ar气,使氧化铌在一定温度下转化为难蒸发的碳化物形式,从而使分析物与基体铌蒸发分离,消除基体效应.采取电热蒸发(ETV)与ICP-AES/MS联用技术可以通过优化ETV参数或使用合适的化学改进剂来消除/降低基体的干扰,改善方法对难蒸发和易形成碳化物元素的检出限.

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