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无内标和基体匹配的ICP-MS直接测定高纯氧化铕中的13种痕量稀土杂质

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本文报道了用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)直接测定高纯氧化铕中痕量稀土杂质的方法.该法的检出限为3～7ng/L,精密度(RSD﹪)为2.1～8.4﹪,样品加标回收率为90﹪113﹪.方法具有简单、快速、灵敏,不需要基体匹配及内标校正,以及样品消耗量少等优点.当基体(Eu)浓度为100μg/mL时,13个稀土元素的溶液总测定下限为0.21ng/mL;对应的固体检测下限为21μg/g.可见,本法可直接分析纯度为99.99﹪～99.999﹪的高纯氧化铕.

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来源
《第十届全国稀土元素分析化学学术报告会》|2003年|41-42|共2页
会议地点南昌、井冈山
作者
曾艳; 胡斌; 江祖成;
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作者单位

中国稀土学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类质谱分析;无机分析;
关键词
ICP-MS; 高纯氧化铕; 稀土杂质; 基体效应; 质谱干扰;

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