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塑封微电路的环境试验

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由于军用和航天用设备的设计方案所采用的塑封微电路越来越多,本文采用一些新的和较为常用的环境试验评价了塑封微电路的可靠性,以满足其规范的功能要求.

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来源
《第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会》|2001年|112-114|共3页
会议地点陕西华阴
作者
刘涌;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构;
关键词
塑封微电路; 环境试验; 可靠性;

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