首页> 中文会议>第三届全国核仪器应用学术会议 >5~100keV X射线谱仪系统的建立及其效率校准

5~100keV X射线谱仪系统的建立及其效率校准

摘要

建立了一套包括Si(Li)X射线谱仪和平面Ge X射线谱仪的高分辨率X射线谱仪系统,分别用于5~30keV和20~100keV能区X射线和低能γ射线能谱的测量.我们使用自己研制的一套高质量的低能X射线校准源,利用二次标准源法对该谱仪系统进行了效率校准.经过精心的校准后,该系统在5~100keV能区,全能峰效率的扩展不确定度U(K=3)≤3﹪.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号