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叶酸在汞电极上的电化学研究及其分析应用

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本文利用差示脉冲溶出伏安技术和叶酸在电极表面的吸附特性,建立了测定痕量叶酸的电化学分析方法.方法具有快速、简便、灵敏度高、干扰少的优点.在不富集的实验条件下,差示峰电流与叶酸浓度在3.39×10<'-8>mol/L～3.73×10<'-7>mol/L范围内呈良好线性关系;而在-0.25V电位吸附富集70s条件下,其线性范围为6.78×10<'-10>mol/L～2.72×10<'-8>mol/L,检测限达1.0×10<'-11>mol/L.将该方法应用于小米和玉米中微量和痕量叶酸的测定,结果满意,回收率在94﹪-102﹪之间.

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来源
《第十一届有机分析和生物分析学术研讨会》|2001年|322-323|共2页
会议地点福州
作者
刘灵芳; 王翠红; 张娟; 冶保献;
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作者单位

中国化学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类化学药理学;电化学分析法;
关键词
差示脉冲溶出伏安法; 叶酸; 电化学分析法; 汞电极;

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