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X射线荧光光谱法直接测定钥铕钆富集物中10种稀土元素

摘要

该文采用X荧光光谱粉末压片法直接测定钥铕钆富集物中10种稀土元素, 研制了一套与样品相同类型的标准做回归分析,用干扰系数法作谱线重叠校正,用WinXRFV2.0提供的基体影响校正程序修正共存元素的基体效应,根据谱线强度与样品浓度成线性关系,求得分析元素的含量。分析结果与人工合成样品数据一致。方法的精密度为0.21℅~3.16℅。

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