首页> 中文会议>全国第六届电子测量与仪器学术报告会 >可测试设计多重描述与成本评价策略

可测试设计多重描述与成本评价策略

摘要

本文提出了一种用于智能选择可测试设计技术的多重描述和成本评价方法,多重描述将拓朴描述、基于规则集描述和分层规则集描述集成为一体,用于表示设计电路所需的各种信息.成本评价函数将不同的属性值统一成单一的数值分,用于表示可测试设计技术的优劣,而没有使用归一化因子,规则模型已用C++语言实现.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号