综合诊断数学模型与测试性设计

著录项

• 来源
  《第九届中国集成电路测试学术年会》|1999年|55-58|共4页
• 会议地点 北京
• 作者

  周玉芬; 王琨; 马健;

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• 作者单位

  中国航空学会;

  中国计量测试学会;

  中国电子学会;

  中国空气动力学学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 半导体集成电路（固体电路）;半导体集成电路（固体电路）;
• 关键词

  综合诊断; 数字模型; 测试性设计;