摘要:I<,DDQ>测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术, 该种测试方法是在多种输入逻辑条件下测试静态电源电路参数值,它可以有效地检测出并剔除早期失效器件。 I<,DDQ>测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。围绕这两大课题,该文提出了一种基于ITS9000测试系统的功能I<,DDQ>测试方法和技术,并在ITS9000上进行了测试试验。实践表明,该种功能I<,DDQ>测试方法,可以自动生成测试向量集和测试程序,测试效率高,测量结果精确,测试操作简便易行。