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基于ITS9000测试系统的I<,DDQ>测试方法研究

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I<,DDQ>测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术，该种测试方法是在多种输入逻辑条件下测试静态电源电路参数值，它可以有效地检测出并剔除早期失效器件。 I<,DDQ>测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。围绕这两大课题，该文提出了一种基于ITS9000测试系统的功能I<,DDQ>测试方法和技术，并在ITS9000上进行了测试试验。实践表明，该种功能I<,DDQ>测试方法，可以自动生成测试向量集和测试程序，测试效率高，测量结果精确，测试操作简便易行。

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来源
《第九届中国集成电路测试学术年会》|1999年|91-95|共5页
会议地点北京
作者
吴丹; 石坚; 周红;
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作者单位

中国航空学会;

中国计量测试学会;

中国电子学会;

中国空气动力学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类数字集成电路、逻辑集成电路;数字集成电路、逻辑集成电路;
关键词
可靠性测试; 集成电路; 测试技术;

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