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电子元器件测试系统选型中的若干问题

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该文探讨了测试需求和测试成本之间，测试系统和测量体制之间，测试系统和测试技术之间的关系，比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统，选择小型测试系统和中、大型测试系统的利弊，并对系统的选型和评价提出了看法。

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来源
《第九届中国集成电路测试学术年会》|1999年|149-157|共9页
会议地点北京
作者
孙铣;
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作者单位

中国航空学会;

中国计量测试学会;

中国电子学会;

中国空气动力学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类维修、保养;测试和检验;
关键词
电子元器件; 集成电路;

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