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浦天舒;
中国物理学会;
椭偏参数; 薄膜厚度; 复数折射率; 牛顿迭代法; 收敛因子;
机译:数值椭偏仪:在N-k平面中用于未知均质各向同性基板和未知分层基板上生长膜的椭偏仪分析
机译:数值椭偏仪:在N-k平面中针对金属,半导体和绝缘体的特定组合的椭偏仪分析
机译:通过椭偏孔隙率法,紫外椭偏法和激光诱导的表面声波研究了SOG低k材料的刚性和亲水性
机译:X射线椭偏仪(XME):一种新颖的椭偏技术,可完全表征薄膜-基材系统
机译:光谱椭偏仪作为薄膜中光学,电学和结构特性的多功能,非接触式探针:在光伏中的应用
机译:自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪
机译:椭偏孔隙率法,紫外椭偏法和激光诱导的表面声波研究SOG低k材料的加硬和亲水化
机译:光谱椭偏仪和显微椭偏仪
机译:使用光谱成像和椭偏法的椭偏仪
机译:椭偏法和椭偏仪,用于测试样品表面的物理性质
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