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CNYI7-4光耦失效机理分析与可靠性保证措施

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该文通过对CNYI7-4光耦失效器件的分析，搞清该器件的失效模式及产生失效的机理。

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来源
《中国电子学会可靠性分会第九届学术年会》|1998年|195-196|共2页
会议地点成都
作者
米兴志;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术及设备;
关键词
箭载电子产品;

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