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增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

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摘要

随着工艺尺寸的缩减,软错误问题日益突出,给抗辐照芯片设计带来巨大挑战.同时,空间辐射粒子轰击电路时电荷共享效应越发显著,当位置相邻且电路相连的单元在一定条件下发生电荷共享时会产生脉冲窄化效应.组合电路中发生的脉冲窄化效应可以在一定程度上减小单粒子瞬态产生的脉冲宽度,脉冲窄化效应与电路版图结构密切相关.本文提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误优化布局方法,通过增加电路中quenching单元对数量来增加电路发生脉冲窄化效应的概率.在此基础上,本文同时实现了一个组合电路软错误优化布局及评估平台,该平台可独立使用,也可以嵌入到商用工具中,自动化的完成布局及软错误评估.模拟结果表明,该方法可以减少14％-26％的软错误.

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来源
《2017中国计算机辅助设计与图形学大会（2017 China CADCG）》|2017年|1-9|共9页
会议地点天津
作者
Liu Chang; 刘畅; He Xu; 贺旭; Liang Bin; 梁斌; Guo Yang; 郭阳;
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作者单位

中国计算机学会;

中国自动化学会;

中国图学学会;

中国图像图形学会;

中国系统仿真学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电路综合与分析;
关键词
组合电路; 软错误; 优化布局; 评估平台; 电荷共享效应; 脉冲窄化效应;

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增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

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