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带涂层叶片盘裂纹的无损检测

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摘要

本文分析了叶片盘的结构及表面涂层对磁粉检测和荧光检测的影响,验证了采用增加纵向磁化的方式,可有效保证叶片盘叶片部位的检测灵敏度;当涂层厚度小于50μm时,其检测灵敏度仍然可以满足检验的需求;同时采用荧光、磁粉检测在役涂层叶片盘,可分辨裂纹属涂层裂纹或基体裂纹.

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来源
《第十一届全国磁粉渗透检测技术年会》|2017年|89-93|共5页
会议地点山东济宁
作者
苏清风; 袁雅妮; 习小文; 文铁梅;
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作者单位

中国机械工程学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类无损探伤;
关键词
叶片盘; 无损检测; 裂纹结构; 表面涂层;

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