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HEMT基生物传感器制作工艺中SPM溶液对GaN表面羟基化处理条件的优化

摘要

在高电子迁移率晶体管(HEMT)基生物传感器的制作工艺中,对栅区表面(GaN帽层)进行羟基化是必不可少的一步.本文通过X射线光电子能谱(XPS)表征和接触角测量验证了GaN表面亲水性和羟基含量呈正相关,且从表面能的角度解释了其内在机理.对GaN表面进行不同条件下的SPM(硫酸双氧水混合液)羟基化处理,通过水的静态接触角表征的方法验证其羟基化的效果,最终得出SPM的最佳处理条件为80℃水浴下处理20min.

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