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SHI Jian; 石剑; DONG Jundong; 董俊冬; LU Minghui; 陆铭慧; LIU Xinfeng; 刘勋丰;
中国机械工程学会;
铝硅封严涂层; 缺陷检测; 超声特征扫描成像; 准确性; 直观性;
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