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元器件测试过程中过电应力来源及防护

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本文以CMOS器件、稳压器、运算放大器为例讲述了元器件测试过程中过电应力的来源和防护方式.熟悉测试设备的工作原理和状态，正确的理解器件的工作特性是元器件测试工程师完成器件测试工作的一个前提，只有准确的绕过器件测试过程中的一个又一个的“坑”，才能避免产生过电应力。

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来源
《中国航天科工集团第七届环境与可靠性技术交流会》|2019年|189-191|共3页
会议地点贵阳
作者
JIAN Li; 简力; LI An-nan; 李安南; LI Yong-mei; 李永梅;
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作者单位

中国航天科工集团;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;
关键词
电子元器件; 测试过程; 过电应力; 防护方式;

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