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JEM-2010型透射电镜设备改进与功能扩展

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JEM-2010型透射电镜是日本电子株式会社(简称日本电子)90年代推出的高压高分辨通用型透射电子显微镜,主要用于观察固态物质显微形貌,分析晶体结构,检测微小物质的形貌和尺寸.本文主要针对作者单位早期引进的JEM-2010型透射电镜,在图像采集、处理及元素分析等方面存在的不足,以及原设备配置无法满足不断增长的测试需求,提出设备改进方案,升级透射电镜图像采集系统，开发电镜设备中能谱仪面、线元素分布分析功能，添置电镜样品进样装置，挖掘设备潜力,使设备功能得到充分扩展,更好地为科研服务.

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来源
《2013年全国电子显微学学术会议》|2013年|117-118|共2页
会议地点重庆
作者
储昭琴; 朱晓光; 孔明光;
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作者单位

中国物理学会;

中国电子显微学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电子光学仪器;
关键词
透射电子显微镜; 设备改造; 功能开发; 效果评估;

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