Formal验证在覆盖率收敛中的应用

摘要

在SOC芯片的开发中,功能覆盖率与代码覆盖率是检查验证完备性的标准.在大规模的模拟验证之后剩余的未覆盖点,如果继续使用伪随机环境进行验证往往步履维艰.随着Formal验证技术的逐渐成熟,采用Formal验证的思想和工具找到未覆盖点中的不可达点,对加速芯片验证后期的覆盖率收敛有着事半功倍的效果.

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