首页> 中文会议>第十五届全国容错计算学术会议（CFTC'13） >基于板内FPGA的RAM自动测试实现

基于板内FPGA的RAM自动测试实现

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

大规模集成电路中,因电路板对外接口数量的限制,用ATE测试板内芯片具有一定的难度.使用板内FPGA实现RAM的测试,可以有效利用板内已有的硬件资源和拓扑结构,不需改动RAM内部物理结构,不额外增加板外测试电路.选用了RAM测试的March C+算法以及WL Wang等人提出的一种数据背景生成算法,设计了基于FPGA的测试平台和测试模块.根据各片RAM拓扑信息编写的软件,实现了RAM测试程序的自动生成.仿真和硬件实验验证了自动测试的有效性.

著录项

来源
《第十五届全国容错计算学术会议（CFTC'13）》|2013年|57-60|共4页
会议地点重庆
作者
ZHOU Bing-qin; 周冰沁; WANG Hong; 王红; YANG Shi-yuan; 杨士元; MENG De-yong; 孟德永;
展开▼
作者单位

中国计算机学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN47:TN407;
关键词
大规模集成电路; 现场可编程门阵列; 自动测试; 仿真分析;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 基于FPGA的电路板自动测试技术研究 [J] . 陈岩申 ,王新洲 ,张波 . 计算机测量与控制 . 2010,第007期
2. 基于FPGA的四口RAM设计与实现 [J] . 吕波 ,张涌 ,黄侃 . 仪表技术与传感器 . 2017,第001期
3. 基于FPGA的双口RAM实现及应用 [J] . 秦鸿刚 ,刘京科 ,吴迪 . 电子设计工程 . 2010,第002期
4. 基于FPGA和双端口RAM的DDS任意波形发生器的实现 [J] . 石玮 . 湖北师范学院学报（自然科学版） . 2008,第001期
5. 基于FPGA技术的异步双端口RAM设计与实现 [J] . 方湘艳 ,韩威 . 中国集成电路 . 2005,第001期
6. 基于FPGA器件电路板的自动测试技术 [C] . 王新洲 ,陈岩申 ,张波 . 武器装备综合保障信息化技术研讨会 . 2009
7. 基于FPGA和LabVIEW的某产品自动测试系统设计与实现 [A] . 田晚成 . 2019

基于板内FPGA的RAM自动测试实现

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅