基于20nm FinFETs器件穿通电流的抑制及穿通阻止层技术优化设计

摘要

本文基于20 nm FinFETs器件应用TCAD仿真技术研究了穿通阻止层对器件特性的影响。根据本文的研究结果,穿通阻止层对器件的亚阈值特性影响甚大,对穿通阻止层技术的优化设计对于获得高性能低功耗FinFETs器件具有重要意义。

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