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XPS对PPy/APS-SiO<,2>纳米导电复合材料的表征

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摘要

首先用不同百分含量的氨丙基三乙氧基硅烷(APS)处理SiO<,2>,然后以水为反应介质,通过化学氧化聚合法合成PPy/APS-SiO<,2>纳米复合材料,并利用XPS对材料表面进行分析.

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来源
《2003全国高分子学术论文报告会》|2003年|581-582|共2页
会议地点杭州
作者
任丽; 王立新;
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作者单位

中国化学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类非金属复合材料;特种结构材料;
关键词
聚吡咯; 二氧化硅; 复合材料; 硅烷偶联剂; 表面分析; 纳米材料; X射线光电子能谱;

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