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基于JAS膜技术下TFT-LCD像素电压串扰的影响因素研究

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摘要

基于JAS膜技术的TFT-LCD像素结构,本文通过分析实验,研究对比了JAS和non-JAS两个机种下,不同的面板反转方式分别对这两个机种的像素电压的串扰影响.结果发现,non-JAS机种的像素电压在不同反转方式下受到串扰的影响最小,JAS机种由于数据线与TFT漏极之间的寄生电容(Csd)的影响而产生颜色串扰的问题,并提出了问题的解决方法.本文的研究结果对大尺寸、高分辨率的TFT-LCD产品的像素电压串扰问题及像素结构设计上有一定的指导作用和参考意义.

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来源
《2018中国显示学术会议》|2018年|160-165|共6页
会议地点西安
作者
YAO Jia-jun; 姚家俊; SHENG He-jun; 盛何君; SONG Jian-long; 宋见龙;
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作者单位

中国物理学会;

中国光学光电子行业协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN873.93;
关键词
液晶显示器; 薄膜晶体管; JAS膜技术; 像素电压; 串扰问题;

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