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基于工业CT技术的结构尺寸测量精度研究

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随着CT技术进步及测量精度的提高,CT技术作为工业产品质量控制的一种手段,其应用范围由传统无损检测逐渐扩展到包括工业产品的结构尺寸测量领域.与传统接触式或光学非接触式三坐标测量设备相比,CT技术最大优势在于一次扫描即可无损的获取被扫产品内外结构尺寸信息,这一特点使得CT在装配检测以及复杂产品内部结构的非破坏测量上具有独特的优势.但是由于CT测量过程受很多因素影响,像射线能量、样品条件、图像伪影、数据处理等.目前为止对于CT测量精度仍然无法给出确切的回答,关于CT测量的相关标准还在筹备之中.为了研究CT测量精度及其影响因素,本文选择了一个包含内外特征的模体作为测量对象,分别使用工业CT、接触式CMM和光学CMM测量设备对模体进行独立测量,将工业CT测量结果与已知精度的接触式CMM和光学CMM测量结果进行偏差比较,分析了CT成像过程中影响测量精度的误差来源,并提出了改进方案,最终将CT测量误差控制在了19μm以下.

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来源
《第十三届中国体视学与图像分析学术会议》|2013年|396-403|共8页
会议地点太原
作者
李敬; LI Jing; 陈浩; CHEN Hao; 王远; WANG Yuan; 陈思; CHEN Si; 李寿涛; LI Shoutao; LI Shigen; 李世根; CUI Yuzhu; 崔玉柱;
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作者单位

中国体视学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类组织检查法、非破坏性试验法;
关键词
工业计算机断层扫描成像; 无损检测; 结构尺寸; 测量精度;

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