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韩依楠; 吕德春; 董义; 陈彤;
中国电子学会;
四川省电子学会;
球栅阵列封装; 无铅焊接; 焊点开裂; 故障定位;
机译:BGA包装电子芯片焊点的故障分析与建模
机译:低温焊接SN-AG-CU / SN-Bi-X混合BGA焊点用于消费电子产品的板级降低性和断裂行为
机译:用于在印刷电路板(PCB)上焊接的球栅阵列(BGA)中焊点的热机械可靠性的有效焊料
机译:自由滴测试下倒装芯片BGA包装中焊点的故障分析
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:演讲角。开裂还是不开裂?为什么这不是全球公共卫生问题公共卫生从业人员应如何解决?
机译:老化对PB免球栅极(BGA)焊点(BGA)焊点(BGA)焊点中的界面(Cu,Ni)6(Sn,Zn)6(Sn,Zn)5和(Cu,Au,Ni)6sn5金属间金属间金属间金属间金属间化合物的影响
机译:几种设计辅助材料特性的影响为焊点开裂提供了可靠性
机译:用于故障分析的通用BGA板及其使用方法
机译:BGA封装的背面故障分析
机译:角部非关键功能球(NCTF)的关节连接,以提高BGA焊点的可靠性(SJR)
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